供应PCT试验箱|高压加速老化试验箱|冷热冲击试验箱

PCT试验箱

PCT试验箱|高压加速老化试验箱广泛应用于半导体，多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。

主要技术参数：
1.使用温度：121℃；132℃；(143℃特殊选用)
2.使用湿度：100％RH饱和蒸气湿度
3.使用蒸气压力(绝对压力)：1个环境大气压 +0.0Kg／cm2 - 2.0Kg／cm2 ；(3.0Kg／cm2属于特殊规格)
4.循环方式：水蒸气自然对流循环
5.安全保护装置：缺水保护，超压保护、 (具有自动／手动补水功能，自动泻压功能)
6.配 件：不銹钢隔板两层

冷热冲击试验箱该试验设备主要用于对产品按照国家军用标准要求或用户自定要求，在高温与低温瞬间变化条件下，对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试，测试后，通过检测，来判断产品的性能，是否仍然能够符合预定要求，以便供产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。

技术参数：
1.温度范围（测试区）：(150℃～A：-45℃；B：-55℃；C：-65℃)；
2.(高温区：+60℃～+150℃；低温区-10℃～-65℃)
3.升温时间(蓄热区)：RT～200℃约需35min
4.降温时间(蓄冷区)：RT～-70℃约需85min
5.温度回复时间／转换时间：≤5min内 / ≤l0秒内
6.温度控制精度／分布精度：±0.5℃／±2.0℃
7.保温材质：耐高温高密度氯基甲酸乙醋泡沫绝缘体材料
8.系统：P．I．D + S．S．R + 微电脑平衡调温控制系统
9.冷却系统：半密闭式双段压缩机(水冷式)／全密闭式双段压缩机(风冷式)
10.试验箱内部尺寸：按客户要求制造